Razlika između verzija stranice "Skenirajući tunelski mikroskop"
| [pregledana izmjena] | [pregledana izmjena] |
sa sr wiki i en wiki |
m r2.7.1) (robot dodaje: ar, bg, cs, da, de, eo, fa, fi, fr, he, hi, id, it, ja, nl, no, pl, pt, ru, simple, sr, sv, ta, uk, vi, zh |
||
| Red 10: | Red 10: | ||
== Vidjeti i == |
== Vidjeti i == |
||
[[Nanotehnologija]] |
[[Nanotehnologija]] |
||
| ⚫ | |||
[[Kategorija:Tehnologija]] |
[[Kategorija:Tehnologija]] |
||
[[Kategorija:Mikroskop]] |
[[Kategorija:Mikroskop]] |
||
| Red 17: | Red 16: | ||
{{Tehnologija}} |
{{Tehnologija}} |
||
{{Nanotehnologija}} |
{{Nanotehnologija}} |
||
[[ar:مجهر مسح نفقي]] |
|||
[[bg:Сканиращ тунелен микроскоп]] |
|||
[[cs:Řádkovací tunelový mikroskop]] |
|||
[[da:Scanning Tunnel Microscope]] |
|||
[[de:Rastertunnelmikroskop]] |
|||
| ⚫ | |||
[[eo:Tunel-efika mikroskopo]] |
|||
[[fa:میکروسکوپ تونلی روبشی]] |
|||
[[fi:Tunnelointimikroskooppi]] |
|||
[[fr:Microscope à effet tunnel]] |
|||
[[he:מיקרוסקופ מינהור סורק]] |
|||
[[hi:अवलोकन टनलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्र]] |
|||
[[id:Mikroskop penerowongan payaran]] |
|||
[[it:Microscopio a effetto tunnel]] |
|||
[[ja:走査型トンネル顕微鏡]] |
|||
[[nl:Scanning tunneling microscopy]] |
|||
[[no:Scanning tunneling mikroskop]] |
|||
[[pl:Skaningowy mikroskop tunelowy]] |
|||
[[pt:Microscópio de corrente de tunelamento]] |
|||
[[ru:Сканирующий туннельный микроскоп]] |
|||
[[simple:Scanning tunneling microscope]] |
|||
[[sr:Скенирајући тунелски микроскоп]] |
|||
[[sv:Sveptunnelmikroskop]] |
|||
[[ta:வருடு ஊடுருவு நுண்ணோக்கி]] |
|||
[[uk:Тунельний мікроскоп]] |
|||
[[vi:Kính hiển vi quét chui hầm]] |
|||
[[zh:扫描隧道显微镜]] |
|||
Verzija na dan 13 juli 2011 u 12:11
Skenirajući Tunelski Mikroskop (STM) je veoma moćna tehnologija za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja atomske rezolucije. STM je zasnovana na kvantno-mehaničkom efektu tunelovanja elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz vakuum koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka elektrona struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja.
Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), Nobelovu nagradu za fiziku, 1986.
Za STM, dobrom rezolucijom se smatra 0,1 nm poprečno, i 0,01 nm po dubini. Sa ovakvom rezolucijom, pojedinačni atomi na površini materijala su jednostavno uslikani, sa mogučnošću manipulacije.
Mnoge druge mikroskopske tehnike su razvijen na bazi STM. One uključuju: fotonsku skenirajuću mikroskopiju (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i mikroskopiju atomske sile (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom između vrha i uzorka.
Vidjeti i
Tehnologija i povezani koncepti | |||||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| |||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||
