Razlika između verzija stranice "Skenirajući tunelski mikroskop"
| [pregledana izmjena] | [pregledana izmjena] |
m Bot: Interwiki za izabrane članke za pl:Skaningowy mikroskop tunelowy |
m Lokalizacija (left,right,center,thumbnail,Image) |
||
| Red 1: | Red 1: | ||
[[Datoteka:ScanningTunnelingMicroscope_schematic.png| |
[[Datoteka:ScanningTunnelingMicroscope_schematic.png|mini|desno|250px|Šematski prikaz skenirajućeg tunelskog mikroskopa.]] |
||
'''Skenirajući Tunelski Mikroskop''' (STM) je veoma moćna [[tehnologija]] za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja [[atom]]ske rezolucije. STM je zasnovana na [[Kvantna mehanika|kvantno-mehaničkom]] efektu tunelovanja elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz [[vakuum]] koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka [[elektron]]a struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja. |
'''Skenirajući Tunelski Mikroskop''' (STM) je veoma moćna [[tehnologija]] za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja [[atom]]ske rezolucije. STM je zasnovana na [[Kvantna mehanika|kvantno-mehaničkom]] efektu tunelovanja elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz [[vakuum]] koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka [[elektron]]a struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja. |
||
Verzija na dan 1 mart 2012 u 14:58
Skenirajući Tunelski Mikroskop (STM) je veoma moćna tehnologija za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja atomske rezolucije. STM je zasnovana na kvantno-mehaničkom efektu tunelovanja elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz vakuum koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka elektrona struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja.
Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), Nobelovu nagradu za fiziku, 1986.
Za STM, dobrom rezolucijom se smatra 0,1 nm poprečno, i 0,01 nm po dubini. Sa ovakvom rezolucijom, pojedinačni atomi na površini materijala su jednostavno uslikani, sa mogučnošću manipulacije.
Mnoge druge mikroskopske tehnike su razvijen na bazi STM. One uključuju: fotonsku skenirajuću mikroskopiju (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i mikroskopiju atomske sile (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom između vrha i uzorka.
Vidjeti i
Tehnologija i povezani koncepti | |||||||||||||||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| |||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||
