Razlika između verzija stranice "Skenirajući tunelski mikroskop"

S Wikipedije, slobodne enciklopedije
[pregledana izmjena][pregledana izmjena]
Uklonjeni sadržaj Dodani sadržaj
m Bot: premještanje 32 međuwiki linkova koji su sada dostupni na stranici d:q175646 na Wikidati
Red 38: Red 38:


{{Link FA|pl}}
{{Link FA|pl}}

[[ar:مجهر مسح نفقي]]
[[bg:Сканиращ тунелен микроскоп]]
[[ca:Microscopi d'efecte túnel]]
[[cs:Řádkovací tunelový mikroskop]]
[[da:Scanning Tunnel Microscope]]
[[de:Rastertunnelmikroskop]]
[[en:Scanning tunneling microscope]]
[[eo:Tunel-efika mikroskopo]]
[[es:Microscopio de efecto túnel]]
[[fa:میکروسکوپ تونلی روبشی]]
[[fi:Tunnelointimikroskooppi]]
[[fr:Microscope à effet tunnel]]
[[he:מיקרוסקופ מינהור סורק]]
[[hi:अवलोकन टनलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्र]]
[[id:Mikroskop penerowongan payaran]]
[[it:Microscopio a effetto tunnel]]
[[ja:走査型トンネル顕微鏡]]
[[ml:സ്കാനിങ് ടണലിങ് സൂക്ഷ്മദർശിനി]]
[[nl:Scanning tunneling microscopy]]
[[no:Scanning tunneling mikroskop]]
[[pl:Skaningowy mikroskop tunelowy]]
[[pt:Microscópio de corrente de tunelamento]]
[[ru:Сканирующий туннельный микроскоп]]
[[simple:Scanning tunneling microscope]]
[[sl:Vrstični tunelski mikroskop]]
[[sr:Скенирајући тунелски микроскоп]]
[[sv:Sveptunnelmikroskop]]
[[ta:வருடு ஊடுருவு நுண்ணோக்கி]]
[[th:กล้องจุลทรรศน์แบบส่องกราดในอุโมงค์]]
[[uk:Тунельний мікроскоп]]
[[vi:Kính hiển vi quét chui hầm]]
[[zh:扫描隧道显微镜]]

Verzija na dan 12 mart 2013 u 15:54

Šematski prikaz skenirajućeg tunelskog mikroskopa.

Skenirajući Tunelski Mikroskop (STM) je veoma moćna tehnologija za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja atomske rezolucije. STM je zasnovana na kvantno-mehaničkom efektu tunelovanja elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz vakuum koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka elektrona struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja.

Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), Nobelovu nagradu za fiziku, 1986.

Za STM, dobrom rezolucijom se smatra 0,1 nm poprečno, i 0,01 nm po dubini. Sa ovakvom rezolucijom, pojedinačni atomi na površini materijala su jednostavno uslikani, sa mogućnošću manipulacije.

Mnoge druge mikroskopske tehnike su razvijene na bazi STM. One uključuju: fotonsku skenirajuću mikroskopiju (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i mikroskopiju atomske sile (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom između vrha i uzorka.

Vidjeti i

Nanotehnologija

Vanjski linkovi

Šablon:Link FA