Razlika između verzija stranice "Skenirajući tunelski mikroskop"

S Wikipedije, slobodne enciklopedije
Pregled historije
[pregledana izmjena][pregledana izmjena]
← Starija izmjenaNovija izmjena →
Uklonjeni sadržaj Dodani sadržaj
VizualnoWikitekst
m Malo previše vanjskih?
Red 1: Red 1:
{{Nedostaju izvori}}
{{Nedostaju izvori}}
[[Datoteka:ScanningTunnelingMicroscope_schematic.png|mini|desno|250px|Šematski prikaz skenirajućeg tunelskog mikroskopa.]]
[[Datoteka:ScanningTunnelingMicroscope_schematic.png|mini|desno|250px|Šematski prikaz skenirajućeg tunelskog mikroskopa.]]
'''Skenirajući Tunelski Mikroskop''' (STM) je veoma moćna [[tehnologija]] za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja [[atom]]ske rezolucije. STM je zasnovana na [[Kvantna mehanika|kvantno-mehaničkom]] efektu [[Tunel efekat|tunelovanja]] elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz [[vakuum]] koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka [[elektron]]a struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja.
'''Skenirajući tunelski mikroskop''' (STM) veoma je moćna [[tehnologija]] za snimanje površine i karakterizaciju materijala s mogućnošću postizanja [[atom]]ske rezolucije. STM je zasnovana na [[Kvantna mehanika|kvantno-mehaničkom]] efektu [[Tunel efekat|tunelovanja]] elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz [[vakuum]] koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka [[elektron]]a struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) jest funkcija lokalne gustine stanja.


Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), [[Nobelova nagrada za fiziku|Nobelovu nagradu za fiziku]], 1986.
Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), [[Nobelova nagrada za fiziku|Nobelovu nagradu za fiziku]], 1986.


Za STM, dobrom rezolucijom se smatra 0,1 nm poprečno, i 0,01 nm po dubini. Sa ovakvom rezolucijom, pojedinačni atomi na površini materijala su jednostavno uslikani, sa mogućnošću manipulacije.
Za STM, dobrom rezolucijom smatra se 0,1 nm poprečno i 0,01 nm po dubini. S takvom rezolucijom pojedinačni atomi na površini materijala jednostavno su uslikani, s mogućnošću manipulacije.


Mnoge druge mikroskopske tehnike su razvijene na bazi STM. One uključuju: '''fotonsku skenirajuću mikroskopiju''' (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; '''spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju''' (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i '''mikroskopiju atomske sile''' (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom između vrha i uzorka.
Mnoge druge mikroskopske tehnike razvijene su na bazi STM-a. One uključuju: '''fotonsku skenirajuću mikroskopiju''' (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; '''spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju''' (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i '''mikroskopiju atomske sile''' (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom vrha i uzorka.


== Također pogledajte ==
== Također pogledajte ==

Verzija na dan 27 februar 2018 u 21:31

Šematski prikaz skenirajućeg tunelskog mikroskopa.

Skenirajući tunelski mikroskop (STM) veoma je moćna tehnologija za snimanje površine i karakterizaciju materijala s mogućnošću postizanja atomske rezolucije. STM je zasnovana na kvantno-mehaničkom efektu tunelovanja elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz vakuum koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka elektrona struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) jest funkcija lokalne gustine stanja.

Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), Nobelovu nagradu za fiziku, 1986.

Za STM, dobrom rezolucijom smatra se 0,1 nm poprečno i 0,01 nm po dubini. S takvom rezolucijom pojedinačni atomi na površini materijala jednostavno su uslikani, s mogućnošću manipulacije.

Mnoge druge mikroskopske tehnike razvijene su na bazi STM-a. One uključuju: fotonsku skenirajuću mikroskopiju (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i mikroskopiju atomske sile (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom vrha i uzorka.

Također pogledajte

Vanjski linkovi

Preuzeto iz "https://bs.wikipedia.org/w/index.php?title=Skenirajući_tunelski_mikroskop&oldid=2914234"