Mikroskopija skenirajućom sondom

Sa Wikipedije, slobodne enciklopedije
Idi na: navigacija, traži
Question book-new.svg Ovaj članak ili neka od njegovih sekcija nije dovoljno potkrijepljena izvorima (literatura, web stranice ili drugi izvori).
Sporne rečenice i navodi bi mogli, ukoliko se pravilno ne označe validnim izvorima, biti obrisani i uklonjeni. Pomozite Wikipediji tako što ćete navesti validne izvore putem referenci, te nakon toga možete ukloniti ovaj šablon.

Mikroskopija skenirajućom sondom (MSS) (engl. Scanning Probe Microscopy - SPM) je oblast mikroskopije koja se zasniva na upotrebi mjernog uređaja neke fizičke veličine (sonda), čijim se relativnim kretanjem u odnosu na snimani uzorak (skeniranje) vrši mjerenje vrijednosti fizičke veličine u ravnomerno raspoređenim tačkama uzorka. Na tom osnovu se rekonstruiše izgled površine (mjerene fizičke veličine) za cijeli uzorak.

Na principu MSS rade savremeni elektronski mikroskopi, ali i mikroskop atomskih sila i skenirajući tunelski mikroskop. Razlika između ovih tehnologija je u konstrukciji sonde i izboru fizičke veličine na osnovu koje se vrši rekonstrukcija izgleda uzorka.

Vanjski linkovi[uredi | uredi izvor]