Razlika između verzija stranice "Skenirajući tunelski mikroskop"

S Wikipedije, slobodne enciklopedije
[pregledana izmjena][pregledana izmjena]
Uklonjeni sadržaj Dodani sadržaj
Red 13: Red 13:


== Vanjski linkovi ==
== Vanjski linkovi ==
{{Commonscat|Scanning tunneling microscope}}
* [http://www.fz-juelich.de/pgi/pgi-3/microscope A microscope is filming a microscope] (Mpeg, AVI movies)
* [http://www.fz-juelich.de/pgi/pgi-3/microscope A microscope is filming a microscope] (Mpeg, AVI movies)
* [http://www.nano.geo.uni-muenchen.de/SW/images/zoom.html Zooming into the NanoWorld] (Animation with measured STM images)
* [http://www.nano.geo.uni-muenchen.de/SW/images/zoom.html Zooming into the NanoWorld] (Animation with measured STM images)
Red 31: Red 32:
{{Tehnologija}}
{{Tehnologija}}
{{Nanotehnologija}}
{{Nanotehnologija}}
{{Commonscat|Scanning tunneling microscope}}


[[Kategorija:Tehnologija]]
[[Kategorija:Mikroskopi]]
[[Kategorija:Mikroskop]]
[[Kategorija:Njemački izumi]]
[[Kategorija:Nauka]]
[[Kategorija:Švicarski izumi]]
[[Kategorija:Kvantna mehanika]]

Verzija na dan 27 februar 2018 u 21:30

Šematski prikaz skenirajućeg tunelskog mikroskopa.

Skenirajući Tunelski Mikroskop (STM) je veoma moćna tehnologija za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja atomske rezolucije. STM je zasnovana na kvantno-mehaničkom efektu tunelovanja elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz vakuum koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka elektrona struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja.

Njegov razvoj je 1981. donio pronalazačima, Gerd-u Binnig-u i Heinrich-u Rohrer-u (sa IBM Zürich), Nobelovu nagradu za fiziku, 1986.

Za STM, dobrom rezolucijom se smatra 0,1 nm poprečno, i 0,01 nm po dubini. Sa ovakvom rezolucijom, pojedinačni atomi na površini materijala su jednostavno uslikani, sa mogućnošću manipulacije.

Mnoge druge mikroskopske tehnike su razvijene na bazi STM. One uključuju: fotonsku skenirajuću mikroskopiju (PSTM), koja koristi optički šiljak za tuneliranje fotona; skenirajući tunelski potenciometar (STP), koji mjeri električni potencijal površine; spin polariziranu skenirajuću tunelsku mikroskopiju (SPSTM), koja koristi feromagnetični šiljak da tunelira spin-polarizirane elektrone u magnetskom uzorku, kao i mikroskopiju atomske sile (AFM), u kojoj se mjeri sila uzrokovana interakcijom između vrha i uzorka.

Također pogledajte

Vanjski linkovi